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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits的圖書 |
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits 作者：Jha、Niraj K.、Kundu、Sandi 出版社：Springer 出版日期：2011-09-26 語言：英文 規格：平裝 / 232頁 / 23.39 x 15.6 x 1.32 cm / 普通級 / 初版 |
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