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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing的圖書 |
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing 作者：Bhattacharya、Debashis、Hayes、John P 出版社：Springer 出版日期：2011-09-26 語言：英文 規格：平裝 / 160頁 / 23.39 x 15.6 x 0.97 cm / 普通級 / 初版 |
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