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Technisches Wissen aus Patenten: Eine empirische Untersuchung auf der Grundlage von Ansätzen des Wissensmanagements的圖書 |
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Technisches Wissen aus Patenten: Eine empirische Untersuchung auf der Grundlage von Ansätzen des Wissensmanagements 作者：Behrmann、Niel 出版社：Diplom.de 出版日期：1998-08-04 語言：德文 規格：平裝 / 272頁 / 21.01 x 14.81 x 1.55 cm / 普通級 / 初版 |
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