第1章緒論1
本章小結5
習題6
第2章矽單晶材料學7
2.1矽及其化合物的基本性質7
2.2矽的晶體結構13
2.3矽的生長加工方法16
2.4矽材料與器件的關係19
本章小結21
習題22
第3章薄膜基礎知識23
3.1薄膜的定義及應用23
3.2薄膜結構、缺陷及基本性質26
3.2.1薄膜的基本結構及缺陷26
3.2.2薄膜的基本性質29
3.3薄膜襯底材料的一般知識34
3.3.1玻璃襯底34
3.3.2陶瓷襯底35
3.3.3單晶體襯底36
3.3.4襯底清洗37
3.4薄膜的性能檢測簡介40
3.4.1薄膜的厚度檢測40
3.4.2薄膜的可靠性43
本章小結44
習題44
第4章氧化技術46
4.1二氧化矽(SiO2)薄膜簡介47
4.2氧化技術原理49
4.2.1熱氧化技術的基本原理50
4.2.2水汽氧化51
4.2.3濕氧氧化工藝原理52
4.2.4三種熱氧化工藝方法的優缺點53
4.3氧化工藝的一般過程54
4.4氧化膜品質評價58
4.4.1SiO2薄膜表面觀察法58
4.4.2SiO2薄膜厚度的測量58
4.5熱氧化過程中存在的一般問題分析61
4.5.1氧化層厚度不均勻61
4.5.2氧化層表面的斑點61
4.5.3氧化層的針孔62
4.5.4SiO2氧化層中的鈉離子污染62
本章小結62
習題63
第5章濺射技術64
5.1離子濺射的基本原理64
5.1.1濺射現象64
5.1.2濺射產額及其影響因素65
5.1.3選擇濺射現象70
5.1.4濺射鍍膜工藝70
5.2濺射工藝設備72
5.2.1直流濺射台74
5.2.2射頻濺射台77
5.2.3磁控濺射79
5.3濺射工藝應用及工藝實例80
本章小結83
習題83
第6章真空蒸鍍技術84
6.1真空蒸鍍技術簡介84
6.2真空蒸鍍工藝的相關參數86
6.2.1工藝真空86
6.2.2飽和蒸氣壓88
6.2.3蒸發速率和沉積速率88
6.3真空蒸鍍源89
6.4真空蒸鍍設備90
6.4.1熱阻加熱式蒸鍍機(蒸發機)92
6.4.2電子束蒸發台94
本章小結96
習題97
第7章CVD技術98
7.1CVD技術簡介98
7.2常用CVD技術簡介99
7.3低壓化學氣相澱積(LPCVD)103
7.4PECVD107
7.5CVD系統的模型及基本理論115
7.6CVD工藝系統簡介117
7.6.1CVD的氣體源系統118
7.6.2CVD的品質流量控制系統118
7.6.3CVD反應腔室內的熱源119
本章小結119
習題119
第8章其他半導體薄膜加工技術簡介121
8.1外延技術121
8.1.1分子束外延121
8.1.2液相外延(LPE)123
8.1.3氣相外延(VPE)124
8.1.4選擇外延(SEG)125
8.2離子束沉積和離子鍍126
8.3電鍍技術128
8.4化學鍍131
8.5旋塗技術131
8.6溶膠—凝膠法133
本章小結134
習題134
參考文獻134