芯片封測是指芯片的封裝和測試,當芯片設計和製作完成後,需要進行封裝和測試。封裝類似於給芯片穿上堅固的防護外衣,使其可以在複雜的環境下工作,也可以保護芯片,便於散熱。測試即檢測芯片的好壞,同時檢查相關工藝環節所帶來的影響。
本書分為12章,第1章簡要介紹了芯片封測的概念和流程;第2章介紹了晶圓測試,包括檢測芯片的功能和晶圓的製造工藝;第3~8章重點介紹了傳統芯片封裝的工藝流程和原理;第9~10章主要介紹了先進封裝及載帶焊接技術;第11章介紹了最終測試,檢測芯片的最終功能及封裝環節所帶來的影響;第12章介紹了芯片封測的相關係統及數據異常分析。
本書涉及傳統芯片封裝測試的所有流程,敘述通俗易懂,並輔以大量的圖示,既可以作為微電子或集成電路專業的參考用書,也可以作為封裝測試公司新員工的培訓用書,還可以作為半導體初學者和愛好者的學習用書。
江一舟,上海凱虹科技電子有限公司研發部測試開發工程師,在半導體行業工作10多年,先後從事實驗室測試、產品工程、設備應用工程、產品流程管理、測試開發等工作。對芯片封裝測試有深入研究和豐富的工作經驗。