數字集成電路測試：理論、方法與實踐

《數字集成電路測試——理論、方法與實踐》全面介紹數字集成電路測試的基礎理論、方法與EDA實踐。第1章為數字集成電路測試技術導論，第2～9章依次介紹故障模擬、測試生成、可測試性設計、邏輯內建自測試、測試壓縮、存儲器自測試與自修復、系統測試和SoC測試、邏輯診斷與良率分析等基礎測試技術，第10章擴展介紹在汽車電子領域發展的測試技術，第11章對數字電路測試的技術趨勢進行展望。針對每一種數字集成電路測試技術，本書一方面用示例講述其技術原理，另一方面用電子設計自動化(EDA)的商業工具對具體實例演示技術應用過程(EDA工具應用腳本及其說明可在配套資源中下載)，並在每章后附有習題。通過本書，讀者一方面可以學習到基本的測試理論和相關技術；另一方面，還可以對當今芯片設計流程和EDA工具鏈中測試技術的運用和實踐有所了解。

《數字集成電路測試——理論、方法與實踐》適合作為高等院校集成電路、計算機科學與技術、電子科學與技術等相關專業高年級本科生、研究生教材，也可供集成電路設計與測試行業的開發人員、廣大科技工作者和研究人員參考。



李華偉，中國科學院計算技術研究所研究員，中國科學院大學教授，中國計算機學會集成電路設計專委會主任。研究方向為集成電路設計自動化、數字電路測試等，從事高校研究生課程教學多年，曾獲中國科學院教育教學成果獎二等獎、國家技術發明獎二等獎等。

鄭武東，西門子旗下Digital Industries Software公司首席科學家，IEEE Life Fellow，在集成電路測試和診斷領域擁有84項美國專利。博士畢業於美國伊利諾伊大學香檳分校，1990年聯合創辦了CheckLogic System，Inc.，主持開發半導體自動測試軟件，該公司于1993年合併入Mentor Graphics公司，Mentor Graphics公司于2017年被西門子公司收購。

溫曉青，日本九州工業大學教授．IEEE Fellow。研究方向為集成電路測試及高可靠性設計，擔任IEEE Computer Society所屬Power-Aware Testing技術活動委員會創始人兼共同主席，出版集成電路測試領域英文專著10部，並擁有35項專利。

賴李洋，汕頭大學副教授。研究方向為集成電路測試與電子設計自動化。博士畢業於美國伊利諾伊大學香檳分校，曾就職於美國Mentor Graphics公司，有多年芯片可測性設計產品的研發經歷，回國后一直從事本科生和研究生的課程教學與研究工作。

葉靖，中國科學院計算技術研究所副研究員，中科鑒芯（北京）科技有限責任公司首席執行官。研究方向為集成電路測試、格密碼芯片、人工智能軟硬件可靠性與安全性等。曾獲中國產學研合作創新成果獎二等獎、北京市科學技術進步獎二等獎等。