電容式觸控技術導入與解析

第一章  觸控概論
1.1 瞭解觸控
1.1.1 觸控技術的起源 
1.1.2 觸控技術的發展 
1.1.3 觸控技術的應用 
1.2 觸控技術的分類
1.2.1 電阻式觸控技術介紹 
1.2.2 電容式觸控技術介紹 
1.3 觸控IC
1.3.1觸控IC的產生 
1.3.2觸控IC的技術發展 
1.3.3 觸控技術的主流 

第二章  電容式觸控晶片設計原理解析
2.1電容式觸控技術的分類
2.1.1投射電容式觸控技術 
2.1.2 表面電容式觸控技術 
2.2電容式觸控晶片的設計方法
2.2.1開關電容法（Switched Capacitor Method） 
2.2.2充電轉換法(Charge Transfer Method) 
2.2.3 弛張振盪法（Relaxation Oscillator Method） 
2.2.4 串聯電容分壓法（Series Capacitor Voltage Division Method） 

第三章 觸控模組的版圖設計
3.1 ITO模組介紹
3.1.1  ITO簡介 
3.1.2  ITO GLASS
3.1.3 ITO FILM 
3.1.4 ITO鍍膜方式 
3.1.5 ITO的結構 
3.1.6 ITO的製程 
3.2 ITO Layout 規則
3.2.1 掃描線匹配（無鋪地）
3.2.2 掃描線匹配（有鋪地）
3.2.3 單邊走線 
3.2.4 雙面走線 
3.2.5 Pitch 值設定 
3.2.6 ITO Pattern的設計
3.2.7 Dummy設計 
3.3  FPC Layout 規則

第四章 投射電容式觸摸屏測量原理
4.1 測量原理簡介
4.2 測量方法分類
4.3 自電容和互電容測量方法的區別 
4.4 自電容測量方法中的“鬼點”產生和消除 
4.5 PIXCIR方案的測量方法介紹
4.5.1 PIXCIR自電容測量方法
4.5.2 互電容測量方法 

第五章 電容觸控演算法解析
5.2.1 原始資料的採集
5.2.3 DAC線性修正
5.2.4 計算手指座標
5.2.6 判斷手指狀態

第六章 電容式觸控應用設計實例解析
6.1 觸控屏體設計
6.2 軟板FPC版圖設計
6.3 配置觸摸屏
6.4 觸控晶片I□C 接口介紹與Master bridge 設計 
6.5 open/short測試
6.6 光柵模式測試
6.7 功能測試
6.8 上機調試
6.9 Host 端驅動調試

第七章 GUI實例解析
7.1 GUI設計簡介
7.2 GUI編程實例
7.2.1串口編程基礎 
7.2.1.1 打開串口 
7.2.1.2 發送命令 
7.2.1.3 讀取資料 
7.2.1.4 關閉串口 
7.2.1.5 枚舉串口設備 
7.2.2 資料分析 
7.2.3 資料圖形化顯示 
7.3 其他GUI編程方式及總結

第八章 PIXCIR觸控IC介紹
8.1 關於PIXCIR
8.1.1 PIXCIR的來歷
8.1.2專注於觸控IC的設計
8.2 PIXCIR觸控IC
8.2.1 PIXCIR觸控IC分類
8.2.2 PIXCIR觸控IC系列
8.2.3 PIXCIR觸控IC特色
8.4 PIXCIR觸控解決方案
8.4.1 豐富的量產經驗
8.4.2 PIXCIR觸控解決方案原理
8.4.3多樣化的方案選擇

第九章 觸控專利簡介
9.1 智慧財產權的概念
9.1.1 概念綜述 
9.1.2 世界範圍內主要國家地區申請專利的流程 
9.2 申請專利的意義
9.2.1 保護發明成果 
9.2.2 搶佔市場，限制競爭對手的發展 
9.2.3 創造商業價值 
9.3 觸控專利佈局
9.4 PIXCIR的專利佈局
9.5 業界其他主要公司的專利佈局 

第十章 觸控筆
10.1 觸控筆簡介
10.2 觸控筆的技術原理
10.3 觸控筆的市場概況

第十一章 觸控產業未來發展趨勢
11.1 彈指之間舞動美好生活
11.2 未來觸控運用，就像呼吸一樣自然簡單 
11.2.1消費類電子產品 
11.2.2 商用顯示產品 
11.2.3教育及娛樂類產品 
11.2.4家用電子類產品
11.3 超越想像極限的未來觸控技術發展趨勢 
11.3.1 觸控技術未來發展趨勢 

參考文獻