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$ 6599 | Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
作者：Bhattacharya、Debashis、Hayes、John P 出版社：Springer 出版日期：1989-12-31 語言：英文 規格：精裝 / 160頁 / 23.39 x 15.6 x 1.12 cm / 普通級 / 初版  博客來 - 電腦與週邊硬體
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圖書介紹 - 資料來源：博客來 評分：
圖書名稱：Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
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