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汪島軍的圖書 |
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$ 1125 ～ 1425 | 原子力顯微鏡專利地圖及分析
出版社：行政院國家科學委員會科學技術資料中心  共 2 筆 → 查價格、看圖書介紹
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圖書介紹 - 資料來源：三民網路書店 評分：
圖書名稱：原子力顯微鏡專利地圖及分析
- 圖書簡介
以掃描探針顯微鏡(SPM)為基礎之奈米製造與量測技術，為目前發展新興奈米科技的主流設備。而屬於此系列中的原子顯微鏡(AFM)即是發展奈米科技的重要關鍵設備之ㄧ。基於此，本研究擬藉由原子力顯微鏡專利地圖之製作與分析，來了解原子力顯微鏡的技術特徵及其專利分佈，並由專利分析觀點提出我國原子力顯微鏡的發展策略。
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