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原子力顯微鏡專利地圖及分析的圖書 |
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原子力顯微鏡專利地圖及分析 作者：汪島軍 出版社：國家實驗研究院科學資料中心 出版日期：2004-06-01 |
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圖書介紹 - 資料來源：三民網路書店 評分：
圖書名稱：原子力顯微鏡專利地圖及分析
- 圖書簡介
以掃描探針顯微鏡(SPM)為基礎之奈米製造與量測技術，為目前發展新興奈米科技的主流設備。而屬於此系列中的原子顯微鏡(AFM)即是發展奈米科技的重要關鍵設備之ㄧ。基於此，本研究擬藉由原子力顯微鏡專利地圖之製作與分析，來了解原子力顯微鏡的技術特徵及其專利分佈，並由專利分析觀點提出我國原子力顯微鏡的發展策略。
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