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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing的圖書 |
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$ 6599 | Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
作者：Bhattacharya、Debashis、Hayes、John P 出版社：Springer 出版日期：2011-09-26 語言：英文 規格：平裝 / 160頁 / 23.39 x 15.6 x 0.97 cm / 普通級 / 初版  博客來 - 園藝與花藝
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$ 6599 | Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
作者：Bhattacharya、Debashis、Hayes、John P 出版社：Springer 出版日期：1989-12-31 語言：英文 規格：精裝 / 160頁 / 23.39 x 15.6 x 1.12 cm / 普通級 / 初版 博客來 - 園藝與花藝
- 來源網頁 看圖書介紹
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